등록 번호

특허 번호 6805001

등록 날짜

2020 년 12 월 7 일

Shareadd

아니오

기술 개요

[문제] 정확도가 높은 손상된 금속 재료의 기준 방향을 추정합니다 [솔루션] 금속 재료가 전자 빔으로 조사되고 각 측정 지점의 결정 방향이 전자 후방 산란 회절 이미징 방법에 의해 측정되는 측정 단계 S20을 포함하여 손상된 금속 재료로부터 기준 방향을 추정하기위한 기준 방향을 추정하는 방법, 결정 지점의 부분이 측정 지점의 부분이 배치 된 계산 단계 S45에 의해 측정된다 결정 방향이 회전하는 측정 지점과 계산 단계에서 계산 된 가장 밀도 지점의 결정 방향은 금속 재료의 기준 방향입니다

그림

방법 제공

특허 기반 제품, 당사 서비스, 특허 사용

자세한 설명

아니오